fischer測厚儀代理 DUALSCOPE FMP20涂層測厚儀由于采用了磁感應和電渦流兩種方法,DUALSCOPE FMP20涂層測厚儀且具有自動識別基材的功能,這臺通用型儀器可以測量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導電基材上眾多涂鍍層的厚度。DUALSCOPE FMP20涂鍍層測厚儀使用帶曲率補償功能的探頭
查看詳細介紹電導率是一個重要的材料屬性,不僅對金屬傳導電流 的能力,也對其成分、微觀結構和機械性能提供信息。 使用 fischer電導率測試儀SIGMASCOPE SMP350 可以簡單快速并測定電導率。SIGMASCOPE SMP350 根據渦流相位法 DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測量電導率。
查看詳細介紹Fischer鐵素體含量檢測儀feritscope fmp30 feritscope fmp30帶插拔式智慧型測量探頭,根據磁感應原理在現(xiàn)場或在實驗室中快速的,非破壞性的和準確的測量鐵素體含量。鐵素體含量測定儀FERITSCOPE MP30儀器小巧、測量數據準確
查看詳細介紹FISCHER中國代理 FISCHER 公司生產的各類儀器,廣泛應用于航天工業(yè)、航空工業(yè)、造船工業(yè)、港口機械、電鍍工業(yè)、顯像管流水線、電子工業(yè)等等
查看詳細介紹德國菲希爾FISCHER測厚儀FMP20+FD10 篤摯儀器是德國菲希爾Fischer合作多年的正規(guī)代理商,專業(yè)代理供應德國Fischer便攜式涂鍍層測厚儀,鍍銅測厚儀,庫侖測厚儀,鐵素體含量檢測儀器,電導率儀,防腐涂層測厚儀,校準片標準片,探頭等,一直致力于為客戶提供有關Fischer產品的技術性支持和建議,并提供理想解決方案。
查看詳細介紹德國Fischer費希爾涂層測厚儀fmp10-40 篤摯儀器是德國菲希爾Fischer合作多年的正規(guī)代理商,專業(yè)代理供應德國Fischer便攜式涂鍍層測厚儀,鍍銅測厚儀,庫侖測厚儀,鐵素體含量檢測儀器,電導率儀,防腐涂層測厚儀,校準片標準片,探頭等,一直致力于為客戶提供有關Fischer產品的技術性支持和建議,并提供理想解決方案。
查看詳細介紹手持式PHASCOPE PMP10鍍鎳層測厚儀非常適合電鍍和印刷電路板(PCB)行業(yè)的質量控制。 由于該儀器采用了相敏渦流方法(ISO 21 968),因此可以測量任何基材上的金屬涂層。
查看詳細介紹菲希爾PHASCOPE PMP10鍍銅層測厚儀使用相位感度電渦流方法是根據草擬中的ISO/DIS 21968規(guī)格所製造的,比較傳統(tǒng)的電渦流 DIN ENISO 2360 的測量方法,這種測量方法在測量金屬鍍層厚度方面有明顯的好處。
查看詳細介紹Sigmascope SMP350非磁性金屬電導率儀準確準確地測量金屬導體的導電性。 我們的sigmascope SMP350也用于評估各種熱處理材料的硬度和強度。 導電性是提供有關金屬導電能力的信息的基本材料特性。
查看詳細介紹fischer dualscope mp0表面電鍍層厚度測量儀, DUALSCOPE MP0涂鍍層測厚儀基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量
查看詳細介紹德國菲希爾FISCHER公司生產的經得起考驗的feritscope fmp30菲希爾鐵素體檢測儀適合于需要一款帶全部測量數據存儲,輸出和打印功能的使用者。FERITSCOPE FMP30鐵素體測試儀能存儲多達100個應用程式中4,000個數據組中的20,000個測量數據。
查看詳細介紹菲希爾dualscope mp0測厚儀現(xiàn)貨篤摯基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合(磁感應/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。
查看詳細介紹篤摯現(xiàn)貨供應fischer校準片德國菲希爾校準膜片介紹: 膜片規(guī)格:MP0膜厚儀配的是75μm左右的膜片,F(xiàn)MP10系列配的是24μm和250μm。FMP20配的是9μm,125μm,24μm和250μm。外有其他規(guī)格可選:9μm,11μm,24μm,35μm,50μm,75μm,125μm,250μm,350μm。
查看詳細介紹COULOSCOPECMS2庫倫法測厚儀現(xiàn)貨嘗鮮價CMS2系列儀器通過電解去鍍的方法測量鍍層的厚度。庫侖法也可用于準確地確定任何類型基材上的多層涂層的厚度。CMS2 STEP版本允許對單個鍍層進行標準的STEP測試,以檢測電位差(例如,多層鎳鍍層的質量控制)。
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