泰勒•霍普森有限公司專業(yè)從事超高精度表面及其輪廓形狀測量，是*的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點(diǎn)金剛石車床等設(shè)備的供應(yīng)商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應(yīng)用需求，公司產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代制造業(yè)及新興產(chǎn)業(yè)，如半導(dǎo)體、硬盤、精密光學(xué)、微納米學(xué)等。
SURTRONIC S116 粗糙度儀
一、S116標(biāo)準(zhǔn)配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準(zhǔn)測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機(jī)構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱
二、技術(shù)參數(shù)
數(shù)據(jù)顯示 ：
顯示屏每頁顯示7個(gè)測試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
可以打印測試結(jié)果和圖形
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結(jié)果
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：
儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形
儀器支持U盤大4G，多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。
電源：
充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充電時(shí)間：4小時(shí)
電池壽命：充電一次可以做2000次測試
待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)
由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測試狀態(tài)，長時(shí)間不超過1秒I
自動(dòng)關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置
三、技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍：200 um 100 um 10 um
分辨率： 100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重復(fù)精度 (Ra) ：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動(dòng)掃描
校準(zhǔn)：
自動(dòng)軟件校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287
四、測試參數(shù)：
三個(gè)取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian
評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數(shù)：
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
測試單位：um/uin
五、可選附件
測試平臺(tái)：
00級大理石平板：400X250X70mm
有效高度：280mm。
可調(diào)Y軸V型鐵
可調(diào)范圍：±5mm
V型鐵長度100mm
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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
英國泰勒粗糙度儀
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