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產(chǎn)品名稱: |
測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 |
發(fā)布時間: |
2024-09-02 |
產(chǎn)品品牌: |
Helmut Fischer/德國菲希爾 |
產(chǎn)品特點: |
測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。 |
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測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2的詳細(xì)資料: |
庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使該儀器成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個預(yù)留的應(yīng)用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳),以及各種電解速度。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。 菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測試功能(同時測定厚度和電位差)。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測試。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出, 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。 | CMS2特征 ? 大尺寸高分辨率的彩色顯示器 ? 簡單的操作和圖示的用戶指導(dǎo) ? 使用V18支架實現(xiàn)半自動化測量 ? 電解速度和測量面積的簡單選擇 ? 電壓曲線圖形顯示 ? 圖形和統(tǒng)計分析 ? 多語言和計量單位可供選擇 CMS2 STEP特殊功能 ? 同時測量鍍層厚度和電位差 ? 銀參比電極的簡單準(zhǔn)備 ? 可調(diào)節(jié)的電解電流 |
測量原理: STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)(同時測量鍍層厚度和化學(xué)電位差)的簡寫, 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量,電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。 為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測量結(jié)果,參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決。銀參比電極被設(shè)計成一個圓錐形的環(huán)狀電極,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設(shè)計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。銀參比電極被設(shè)計成一個圓錐形的環(huán)狀電極,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設(shè)計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。 系統(tǒng)概述: 一個測量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個有測量槽的支架(例如:STEP測量槽) 。各種測量臺設(shè)計適合不同的應(yīng)用。 廣泛的測量支架v18和的測量支架 v27測量線材上的鍍層厚度 固定工件的臺虎鉗,也同樣可以安裝在 V18和V24的支撐板上 篤摯儀器供應(yīng)測量儀器,這些產(chǎn)品均由高品質(zhì)的原材料和良好的技術(shù)制造,*,符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。我們經(jīng)驗豐富的質(zhì)量控制團隊對儀器提供的測試范圍進行了各種參數(shù)的測試。我們的產(chǎn)品系列因其高性能,高效率,增強的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*。*,歡迎電詢!
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: Couloscope CMS2 Fischer 測鍍銀厚度儀 Couloscope |
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