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產(chǎn)品名稱： |
fischer膜厚儀 |
發(fā)布時間： |
2024-09-02 |
產(chǎn)品品牌： |
Helmut Fischer/德國菲希爾 |
產(chǎn)品特點： |
fischer膜厚儀ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統(tǒng)，用于測量鍍層厚度和材料測試 |
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fischer膜厚儀 FISCHER—讓測量變得簡便 現(xiàn)今，F(xiàn)ISCHER 的測量和分析儀器廣泛應(yīng)用于世界各個領(lǐng)域，可滿足客戶對高精度、高可靠性測量和操作簡便的需求。我們通過專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供理想的解決方案，即從第*次接觸開始，不斷溝通，直至達(dá)到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動力不斷結(jié)合，為形成新的測量解決方案奠定了堅實的基礎(chǔ)。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統(tǒng)，用于測量鍍層厚度和材料測試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線熒光法，用于測量鍍層厚度和材料分析 。 篤摯儀器 為客戶提供廣泛的產(chǎn)品選擇。以有效的方式滿足客戶的需求。產(chǎn)品和務(wù)價格實惠，歡迎電詢！ 我公司還經(jīng)營世界的進(jìn)口全新設(shè)備如：英國泰勒霍普森 （Taylor Hobson）、捷克吉爾斯派克 （gearSpect Group）、德國菲希爾 （Helmut Fischer）、德國EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國奧林巴斯（ Olympus）、美國雷泰( Raytek)等世界較有名廠家生產(chǎn)的粗糙度儀、圓柱齒輪測量儀、涂鍍層測厚儀、各種硬度計、測高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測量儀等。 涂鍍層測厚儀：  | 膜厚測量： 無論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測量涂層厚度或電鍍層厚度，您都可以在FISCHER功能強(qiáng)大的手持式儀器分類中找到合適的便攜式測厚儀。無論您有什么樣的測量需求，又或者要面對多少種不同的基體材料， FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測量手到擒來。根據(jù)您的需求選擇合適的型號，點擊查看詳細(xì)信息，如有任何疑問，或是想了解fischer更多產(chǎn)品信息，如：可選探頭、校準(zhǔn)片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測試儀等歡迎在線留言或電詢！ |
| fischer膜厚儀MP0 | | 膜厚儀MP0R/MP0R-FP | 
小巧、便攜、耐用的雙功能涂層測厚儀： •無需校準(zhǔn)即可測量。
•執(zhí)行簡易的零點校正
•統(tǒng)計功能（含平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值）
•快速的單手操作：置于工件上即可看到測量讀數(shù)
•兩個背光LCD顯示屏，可方便地在儀器的任何位置
•自動開機(jī)/關(guān)機(jī)功能
•加固處理及有硬質(zhì)鍍層的探頭，儀器經(jīng)久耐用
•連續(xù)測量模式可掃描工件涂鍍層厚度如：大容器結(jié)構(gòu) | | 
通過USB端口可以與電腦相連,探頭由連接電纜連接： ※ 儀器集成了探頭，便于操作，出色的重復(fù)精度
※ 快速的單手操作：置于工件上即可看到測量讀數(shù)
※ 兩個背光液晶顯示屏，從各個角度讀取測量值
※ 具有非磁性基材的導(dǎo)電率補(bǔ)償
※ 記錄測量值時可以發(fā)出聲音和視覺的信號
※ 通過按鈕進(jìn)行統(tǒng)計評估:
※ 至多可存儲10000個數(shù)據(jù)
※ 應(yīng)用廣泛：防腐蝕、油漆、建筑、造船工業(yè)等 |
| FMP10 | FMP20 | | FMP30 | FMP40 |  | 手持式FMP系列是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE), 采用了可更換探頭的設(shè)計，非常適用于對涂鍍層進(jìn)行無損測量。儀器的模塊化設(shè)計，可供客戶根據(jù)不同的測量需求選配不同的測量系統(tǒng).除了眾多的測厚儀機(jī)型之外, FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭. DeltascopeFMP10和FMP30機(jī)型適用于測量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機(jī)型是專為高精度測量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計的。Dualscope FMP20和FMP40機(jī)型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。 | | FMP10和FMP20型測厚儀是專業(yè)便攜式測量系統(tǒng)中的入門級機(jī)型，是現(xiàn)場檢查和控制測量的理想選擇。它們操作簡便，機(jī)體堅固并配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個USB端口，可以輕松地將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X，并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn)行計算和儲存.FMP30和FMP40型儀器為測量數(shù)據(jù)的獲取提供了多的策略,為儲存客戶自定義的測量應(yīng)用提供更多的空間多可以儲存20000個數(shù)據(jù)，更是提供了藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸功能。大量的圖形和統(tǒng)計功能使其能更適用于復(fù)雜的測量應(yīng)用. 另外儀器可以根據(jù)內(nèi)置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規(guī)則進(jìn)行測量。 |
| | | Dualscope FMP100/150 | 
| Dualscope FMP100是一款功能強(qiáng)大、界面友好的涂鍍層測厚儀，可以滿足眾多不同的測量需求。它集成了磁感應(yīng)法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭，即使在不斷變化的測量條件下，它都能很好的完成各種測量任務(wù)。它采用的Windows™ CE操作系統(tǒng)，擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏，并配備了可儲存幾千個測量程式的存儲空間和眾多的統(tǒng)計計算功能，使其成為專業(yè)涂鍍層測試領(lǐng)域的*解決方案。無論是用于汽車業(yè)、電鍍業(yè)、陽極氧化應(yīng)用、防腐層耐用性測試還是精細(xì)涂層領(lǐng)域，在所有情況下，這款儀器一定會為您提供高的準(zhǔn)確度和準(zhǔn)確性。DualscopeFMP150進(jìn)一步配備了第三種測量原理，即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測量涂鍍層厚度外，還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。 |
| SR-SCOPE® RMP30-S銅箔測厚儀 | | COULOSCOPE® CMS2庫侖測厚儀 |  | |  | 通過電阻法無損測量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響，因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測量。 | | CMS 型儀器可以快速、準(zhǔn)確地測量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度。它的測量是一個 通過庫侖法進(jìn)行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面、 操作簡便是對電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來料檢驗的理想選擇。CMS2 STEP型儀器用于對鍍層厚度和電位差進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化 STEP測試。 例如：對多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一種針對多層鎳系統(tǒng)，在測量每個單獨的鍍層厚度的同時還能測定相鄰鍍層的電位差的方法。對于鍍層厚度的測量是基于庫侖法，而電位曲線則是使用帶有AgCl鍍層的銀制參比電極進(jìn)行測量。 | | PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex | |  | | 主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無論樣品表面是否平滑， PMP10都可以準(zhǔn)確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度； 它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測量。PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測量雙鍍層而開發(fā)的（例如：油漆/Zn/Fe)通過一次測量就能同時獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度。 | |  |
| FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 | 帶內(nèi)置 Windows™ CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺式多功能測量系統(tǒng)，尤其適合于無損，高精度的鍍層厚度測 量及材料測試。操作 MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩色觸摸屏，或是鍵盤和鼠標(biāo)。帶有LANUSB接口，可集成于自動生產(chǎn)線中。此外，可以同時使用多8個探頭進(jìn)行測量。MMS PC2的模塊化設(shè)計，允許對儀器按客戶的 要求進(jìn)行配備，并可以在需要的時候配備其它的模塊和探頭 進(jìn)行升級改進(jìn)根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法 ，如電渦流法、磁性法、感應(yīng)法或電阻法等。能測量金屬 上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非電材料上的金屬鍍層 厚度。它還可以用來測定非鐵磁金屬的電導(dǎo)率和測量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。 使用BETASCOPE® 模塊，可按 beta 背散射方法測量不同底材上有機(jī)物和金屬鍍層的厚度，也就意味著可以測量任意底材上的任意涂層，只要兩材料間的原子序數(shù)差達(dá)到5以上。配上適合的探頭，出于質(zhì)量控制目的，甚至能測量軟性鍍層和潤滑鍍層的厚度，如不銹鋼上的有機(jī)納膜（防指紋膜）或是金屬板生產(chǎn)加工過程中的防銹油層。 | | 
在配備了合適的測量模塊后， MMS PC2可靈活運用于來料檢驗,出廠檢驗,或是生產(chǎn)控等。能提供多種數(shù)據(jù)報告方式,并通過FISCHER的FDD軟件進(jìn)行質(zhì)量過程控制.還可以方便建立自動測量，因為測量系統(tǒng)可以直接控制馬達(dá)的測量臺或XY樣品臺，并通過LAN及I/O模塊嵌入自動生產(chǎn)線。 |
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| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： fischer膜厚儀 fischer 涂鍍層測厚儀 膜厚測量 |
| 如果你對無損檢測fischer膜厚儀感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
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