英國雷尼紹測頭探針 Renishaw代理

40多年來，雷尼紹在工業(yè)測量領域實現了許多具有里程碑意義的創(chuàng)新，從*的觸發(fā)式測頭和機動重復定位測座，到可重復的測針交換和模塊掃描系統，雷尼紹用于坐標測量機 (CMM) 的創(chuàng)新型傳感器均符合行業(yè)標準。

雷尼紹提供各種類型的測頭系統，以更好地滿足具體的應用需求。上海篤摯儀器專業(yè)代理雷尼紹各種探頭測針及光柵傳感器等，原裝真品，現貨供應，歡迎選購！

觸發(fā)式測頭

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。

觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。

測針模塊交換

TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能，可提高生產率，并為您提供理想的測量應用系統。

• 減少循環(huán)時間 — 模塊交換時間約為6秒，相比之下手動交換需要1分鐘（還有重新標定時間）
• XY平面碰撞保護裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時會分離
• 模塊可以安全地存放在交換架上

掃描測頭

掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量輪廓、尺寸和位置。

掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。

雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

掃描原理

掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。

觸發(fā)式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。

雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應。