掃描原理
掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。
觸發(fā)式測頭可采集表面離散點,而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù),提供更詳細的工件形狀信息。因此,在實際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進行檢測,掃描測量可謂理想之選。
掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計、機器控制和數(shù)據(jù)分析方法。
雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構(gòu)(無馬達或鎖定機構(gòu)),具有高固有頻率,適合高速掃描測量。分離的光學(xué)測量系統(tǒng)直接(無需通過測頭機構(gòu)中的疊加軸)測量測針的偏移量,以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。
掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)?
掃描測頭提供連續(xù)的偏移量輸出,與機器位置相結(jié)合,從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進行掃描測量時,測頭測尖開始與工件接觸,然后沿工件表面移動,采集測量數(shù)據(jù)。在整個測量過程中,須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內(nèi)。
要想取得理想測量結(jié)果,需要傳感器與機器控制緊密集成,以及良好的濾波運算,以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動算法適用于工件輪廓測量,改變掃描速度使之匹配曲率的變化(表面越平,速度越快),然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率(表面變化越快,采集的數(shù)據(jù)越多)。
特性與優(yōu)點:
SP25M模塊和測針吸盤:
一系列模塊組件使SP25M用戶能夠自建自我需求的測頭能力。
每一種SM25-#掃描模塊在增益和彈簧剛性方面都經(jīng)過優(yōu)化處理,可適應(yīng)規(guī)定的測針長度范圍。每一種模塊都有相匹配的SH25-#測針吸盤。
SH25-3和SH25-4測針吸盤是一根固定的碳纖維桿,上面安裝了M3測針,提供合適的工作長度。
同時,SP25M在使用 SM25-1 / 2 / 3 / 4 / 5掃描模塊和原裝標(biāo)準(zhǔn)測針吸盤 (SH25-1 / 2 / 3 / 4 / 5) 時,可以安裝曲柄式(非直式)測針配置,但是在需要較大偏置的場合,要實現(xiàn)理想測量性能,雷尼紹建議使用SH25-2A / 3A / 4A系列測針吸盤,該測針吸盤專門用于解決此類測針組合可能導(dǎo)致的問題。
SP25M:
直徑僅為25 mm,配備一系列掃描及觸發(fā)模塊,SP25M是世界上小型的多用途掃描測頭系統(tǒng)。
SP25M由兩個傳感器組成,包含在一個外殼中。用戶可從五個掃描模塊(可安裝長度從20 mm至400 mm的M3測針)中選擇任意一個,與轉(zhuǎn)接模塊(與雷尼紹的TP20系列測頭模塊兼容)進行切換。這一功能可實現(xiàn)在單個測頭系統(tǒng)中進行掃描和觸發(fā)測量。
SP25M小巧的尺寸和自動吸附安裝功能使之與PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M測座兼容。它還可安裝在自動吸附的多芯加長桿上。同時,這些組合具有的測觸能力,便于檢測各種零件特征。
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