泰勒霍普森surtronic duo大量程粗糙度儀
Surtronic DUO—可分離式設(shè)計——提供較高的表面粗糙度測量的可靠性和±5%的精度。
Surtronic DUO是一種便攜式、車間用工具，用于快速測量表面粗糙度。這種電池驅(qū)動的裝置可以作為小型入門級儀器，也可以作為具有多功能檢測機構(gòu)生產(chǎn)工具。它測量生產(chǎn)過程控制檢測常用的兩個參數(shù)Ra和Rz。
英國泰勒公司 SURTRONIC DUO 粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。SURTRONIC DUO 粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，可以在一米外遙控操作；其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求，通用貨號訂貨編號：112-3115。大量程粗糙度儀（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）
SURTRONIC DUO 粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。DUO通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點：
快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
攜帶方便DUO可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件1m處操作測量。
校準方便DUO具有自身校準標準，可預(yù)設(shè)標準值，通過LCD顯示出來。
測針保護不用時，設(shè)“park”位置可全面保護測針。
人體工程學設(shè)計
SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標：
Ra(算術(shù)平均偏差，以前稱為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長度內(nèi)輪廓線以下的大高度)
Rp(采樣長度內(nèi)輪廓線以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長度內(nèi)的大峰到谷)
偏度-關(guān)于平均線的輪廓對稱度的測量
Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)
技術(shù)參數(shù)：
量 程： | 200um |
行 程： | 5mm |
取樣長度： | 0.8mm +/-15% |
參 數(shù)： | Ra：0.01um-40um |
Rz：0.1um-199um Rp、Rt、Rv |
顯 示
精 度： | Ra:0.01um |
Rz:0.1um |
檢測方式： | 壓電式 |
尺 寸： | 125*80*38mm |
重 量： | 200g |
訂貨號： SURTRONIC DUO粗糙度儀 | 112-3115
Ra Rz Rv Rp Rt 112-3115-10EX（防爆型） Ra Rz Rv Rp Rt |
| 訂貨號： | 112-2916-03 Ra Rz |
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